二维(2D)材料薄片由单个或几个原子层组成，赋予它们非凡的量子特性，这是在日常材料中观察不到的。因此，这些材料在工业应用和高级研究方面都具有巨大的潜力。

传统上，椭圆光度术是一种广泛采用的光学技术，用于薄膜厚度的无创测量。然而，商用椭圆仪在测量小于50-60微米的区域时面临限制，而2D薄片的横向尺寸通常只有几微米。

为了应对这一重大挑战，希伯来大学的RonenRapaport教授和RalfyKenaz开发了一种用于显微镜集成椭圆偏振仪的系统和方法，即光谱微椭圆偏振仪(SME)，并获得了专利。

这种尖端仪器可以在几秒钟内对极小区域(小至仅2微米宽)的薄膜厚度进行快速、原子级的精确测量。该仪器的卓越性能已在另一份出版物中得到验证，巩固了其可信度和可靠性。

在《ACSNano》杂志最近发表的一篇文章中，希伯来大学的研究人员利用这种创新的微椭圆仪来解决测量和绘制原子级薄二维材料薄片厚度的现代科学难题。研究结果明确证明了微椭偏仪能够成功测量和绘制不同二维材料薄片的厚度，从而确定其原子层数。

这项研究的影响扩展到许多涉及微观结构的行业和研究领域，并为微观结构的高精度光学研究铺平了道路，为技术和科学探索的进步打开了大门。通过引入成熟且高灵敏度的椭圆测量技术在微结构中的应用，这项研究为研究人员和行业提供了一种新颖且宝贵的系统。

光谱微椭偏仪可在薄膜行业中进行调试，用于晶圆的质量控制、表征2D器件和纳米级超材料以及研究纳米粒子的晶体结构以及许多其他潜在应用。

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